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2018年10月26日 本标准规定了球形二氧化硅微粉的术语和定义、分类与标记、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。 本标准适用于电子及电器工业中电子封装 16 行 2021年12月22日 本标准规定了 微硅粉 产品的型号、技术要求，试验方法、检验 微硅粉行业标准（T21236-2007） - 微硅粉标准 - 微硅粉微硅 ...
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2020年7月1日 本标准规定了微硅粉产品的牌号、技术要求、试验方法、检验规格、包装、标志、贮存、运输和质量证明书。. 本标准适用于硅铁和工业硅等生产中，通过电炉的烟 2010年3月2日 本标准规定了电子及电器工业用二氧化硅微粉（以下简称“硅微粉”）的产品分类、技术要求、试 验方法及检验规则、标志、包装、运输和贮存。 本标准适用子以天然 SJT10675-2002电子及电器工业用二氧化硅微粉 - 百度文库
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2016年4月25日 本标准规定了球形二氧化硅微粉的术语和定义、分类与标记、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。 本标准适用于电子及电器工业中电子封装料 2013年12月16日 参照了美国标准（ASTM C1240）、欧盟标准（EN 13263）、加拿大标准（CAN/CSA A23.5）、挪威标准（NS3045）、日 本标准（JIS A 6207：2000）、巴西标 微硅粉 - SINOSI
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2021年10月20日 CESA-2021-3-008《电子封装用二氧化硅微粉表面硅羟基含量的测试方法 酸碱滴定法》 -全文及说明. 下载积分： 100. 内容提示： ICS 31.030CCS L90团 体 标 2016年3月9日 因高纯硅微粉真密度的测定方法还未见报道, 故以耐火材料真密度的国家标准测定方法(标准比重瓶法)作 对照, 测定高纯硅微粉真密度(粒度250 目)结果为2.646 g cm -3 , 本方法与之相对误差-0.076%, 对照结果很相近, 相对误差很小, 对本法进行t 检验表明采用本法高纯硅微粉真密度的测定pdf - 豆丁网
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三、硅微粉堆积密度的测定方法 硅微粉堆积密度的测定可以使用不同的方法，常见的有容积法和重量法。以下是两种常用的测定方法： 3.2 重量法 重量法是一种通过称量硅微粉的质量来间接计算堆积密度的方法。具体步骤如下： 1.2015年3月4日 第31卷第3期西南民族大学学报自然科学版JournalofSouthwestUniversityforNationalities-NaturalScienceEditionMay2005文章编号:1003-2843(2005)03-0377 ...高纯硅微粉吸油值的测定 - 豆丁网
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知乎专栏提供一个自由写作和表达的平台，让用户分享知识、经验和见解。2019年1月24日 对于球形硅微粉产品，杂质元素含量越低，SiO2的含量越高，产品纯度越好。 采用火焰法生产球形硅微粉如工艺适当，在生产过程中基本不会引入杂质，因此球形硅微粉的化学成分与原料的纯度有很大关系，如原料的纯度高，产品的纯度也很高。技术 EMC用球形硅微粉，哪些指标至关重要？ - 技术进展 ...
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目前国内对粉体材料吸油值的测定多集中在颜料及油漆等领域，李晖[5]等根据国家标准GB 5211.15—1988《颜料吸油量的测定》[6]对高纯硅微粉的吸油值测定方法进行了考察，研究了以精制亚麻油为滴定油的条件下，滴定时间、粒度、滴定速度、温度等因素对吸2013年12月16日 3、氧化铁的测定按照GB/T 14506.11-1993的第三篇“邻二氮杂菲光度法测定三氧化二铁量”的规定进行； 4、氧化钙和氧化镁的测定按照GB/T 6901.8的进行； 5、氧化钾和氧化钠的测定按照GB/T 14506.11-1993的第二篇“火焰原子吸收分光光度法测定氧化钾和 微硅粉 - SINOSI
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2021年10月20日 内容提示： ICS 31.030CCS L90团 体 标 准电子封装用二氧化硅微粉表面硅羟基含量的测试方法 酸碱滴定法Test method for silanol content on surface of silica powder for electronicpackaging Acid-base titration（征求意见稿）202X-XX- XX 发布 202X-XX- XX 实施中国电子工业标准化技术协会发 布T/CESA XXXX—202X2018年12月2日 6.16?? 粒径的测定 6.16.1? 原理 本方法是以颗粒沉降原理为基础，用光透法测量硅微粉的粒度分布。 被测定的粉末粒子在分散介质中的沉降速度取决于重力场和该重力场中粒子大小，从而粒子大小的 组成变化可以通过在不同时间测量 ...SJT10675_2002电子及电器工业用二氧化硅微粉.doc
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2021年9月7日 硅作为地壳中普遍存在的非金属晶体元素，具有良好的稳定性，但是微量硅元素的检测一直难以进行。本方法基于实验室检测事例，对石墨粉中的硅的检测过程进行了详细的研究。 ICP-MS用调谐液调至最佳状态后，吸取单元2010年3月2日 本标准规定了电子及电器工业用二氧化硅微粉（以下简称“硅微粉”）的产品分类、技术要求、试 验方法及检验规则、标志、包装、运输和贮存。 本标准适用子以天然脉石英为原料生产的用于电子及电器工业中环氧树脂浇注料、灌封料、塑封料、SJT10675-2002电子及电器工业用二氧化硅微粉 - 百度文库
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2008年5月18日 硅 微 粉 硅微粉化学成份为二氧化硅，（SiO2），是在冶炼硅铁合金和工业硅时产生的SiO2和Si气体与空气中的氧气迅速氧化并冷凝而形成的一种超细硅质粉体材料。俗称硅灰。 一﹑硅灰的物理化学性能： 1、硅灰:外观为灰色或灰白色粉末﹑耐火度2017年8月5日 第 10期 罗 进，等：离子色谱法检测高纯硅微粉中痕量铁和氧化铁杂质 977 性能，成为大规模、超大规模集成电路优质封装材料 题。 电子级硅微粉中铁杂质含量通常为低 mg／ kg 的重要原料之一。 源于生产原料及工艺设备的金属 级，亚铁 ...离子色谱法检测高纯硅微粉中痕量铁和氧化铁杂质.PDF ...
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2021年12月22日 在不定形耐火浇注料中，二氧化硅微粉的比表面积会占全部物料的80%以上，因此二氧化硅微粉的PH值对不定形耐火浇注料和水泥混凝土等产品的凝固时间非常重要的，如前面介绍到的“微硅粉硅灰PH值酸碱性对混凝土强度的影响”。2008年5月18日 硅 微 粉 硅微粉化学成份为二氧化硅，（SiO2），是在冶炼硅铁合金和工业硅时产生的SiO2和Si气体与空气中的氧气迅速氧化并冷凝而形成的一种超细硅质粉体材料。俗称硅灰。 一﹑硅灰的物理化学性能： 1、硅灰:外观为灰色或灰白色粉末﹑耐火度硅微粉 BET测试比表面积 - cnpowder.cn
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2024年7月1日 北检院检验测试中心能够为客户提供科学公正的第三方硅微粉检测服务，检测项目包括机械性能测试、理化指标分析、化学成分分析、可靠性测试等多个方面，硅微粉检测服务收费合理，数据准确，公正可靠。硅微粉的一般项目的检测报告能够在7-10个工作日出 选取一个硅微粉样品检测标准曲线法的精密度，从称样开始，在相同的试验条件下制取6个玻璃片，测试结果如表3所示。从表3可知，除了SiO2和Al2O3的相对标准偏差大于1%以外，其它组分的相对标准偏差均小于1% ，这说明这种标准曲线法精密度较高 ...X射线荧光光谱法分析硅微粉 - 百度文库
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2016年6月28日 摘要： 建立了柱后衍生-紫外检测-离子色谱法同时测定高纯硅微粉中痕量铁和氧化铁杂质含量的方法。方法选用具有阴阳离子交换基团的高选择性Thermo Scientific Dionex TM IonPac TM CS5A色谱柱，选择与铁形成单一络合形态、中等络合能力的2，6-吡啶二羧酸（PDCA）为淋洗液，在线柱后添加普适性的4-2-吡啶 ...2020年3月15日 规模不断扩大，硅微粉作为集成电路封装用的环氧塑封料的填充材料也随之显示出广阔的发展前景。颗粒 球形度是球形二氧化硅微粉的基本参数之一，球形度的好坏直接影响了颗粒的流动性和堆积性能。2019年 12月1日起，正式实施硅微粉球形度检测的国家 颗粒球形度的表征、分级及其应用 - chem17
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2021年6月3日 [金属冶金标准]GBT 16574-1996 硫铁矿和硫精矿中硅含量的测定 重量法.pdf [金属冶金标准]GBT 16596-1996 确定晶片坐标系规范.pdf [金属冶金标准]GBT 16597-1996 冶金产品分析方法 X射线荧光光谱法通则.pdf2024年8月12日 本文件描述了电子封装用二氧化硅微粉（纯度大于99.8%）（以下简称“二氧化硅微粉”）表面硅羟基的酸碱滴定测试方法，包括测试原理、环境条件、试剂、测试步骤、结果计算和实验报告。 本文件适用于环氧模塑料、底部填充胶、电子电路基板、积层绝缘胶膜等封装材料中二氧化硅微粉表面硅羟基 ...T/CESA 1186-2022 电子封装用二氧化硅微粉表面硅羟基含量 ...
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2016年4月25日 GB/T 37406-2019 电子封装用球形二氧化硅微粉球形度的检测方法 颗粒动态光电投影法 GB/T 36655-2018 电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法 20231021-T-469 集成电路封装用低放射性球形氧化硅微粉 SJ/T 10675-2002 电 本标准规定了电子及电器工业用二氧化硅微粉(以下简称“硅微粉”)的产品分类、技术要求、试 验方法及检验规则、标志、包装、运输和贮存。 本标准适用子以天然脉石英为原料生产的用于电子及电器工业中环氧树脂浇注料、灌封料、塑封料、 包封料、工程塑料、涂料、硅橡胶以及电焊条保护涂层 ...SJT10675-2002电子及电器工业用二氧化硅微粉 - 百度文库
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化学分析法是通过化学反应来测定硅微粉 中的二氧化硅含量。常用的化学分析方法包括酸碱滴定法、重量法和红外吸收法等。这些方法的基本原理是通过一系列的化学反应，将二氧化硅转化为可以定量分析的物质，然后通过测定物质的含量来计算 ...2013年3月9日 ，结果见图1.由图可见在不同萃取时间段溶液电导率会出现一相对稳定平台，时间越长其电导率相对越高，我们认为前一个平台更能真实反映样品中的杂质情况，故选择最佳萃取时间为10-15min.2.3取样量与高纯水萃取比例的选择分别准确称取6.0000,3.0000,1.高纯硅微粉水萃液电导率的测定 - 豆丁网
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